對于半導體控溫廠家來說，半導體控溫裝置的電氣測試是很重要的，那么，關(guān)于半導體控溫裝置的電氣裝置不了解的用戶需要仔細了解清楚的。

　　很多測試工程師都會發(fā)現(xiàn)半導體控溫裝置的結(jié)果往往都不能預(yù)見，即使是用*ATE也不能保證測試結(jié)果的正確性。很多情況下，必須對產(chǎn)品重新測試，浪費了大量時間。半導體控溫裝置電氣測試可信度簡而言之就是衡量一個測試設(shè)備提供給使用者測試結(jié)果正確性的指標。一個電氣測試可信度很高的測試設(shè)備無需作重復的測試，從而節(jié)省大量寶貴的測試時間。 如果把一次測試下來的失效器件重測，其中有些可能會通過測試，原因在于原始的錯誤可能由測試設(shè)備造成的，而非器件本身。這樣的失效被稱為“非正常失效”，測試可信度可以通過衡量這些“非正常失效”的數(shù)量來計算。

　　半導體控溫裝置電氣測試非正常失效產(chǎn)生有很多原因，可能是DUT和測試頭之間接觸不良、測試設(shè)備硬件問題、不合理的硬件搭構(gòu) 、金屬接觸面氧化或污染導致接觸失效、測試環(huán)境濕度過高、GR&R過高，其中一條是很多測試工程師面臨的普遍問題，其原因有DUT引腳和接觸面沒有對齊、接觸器件老化、接觸器件氧化和污染、接觸面濕度太大。

　　對于使用半導體控溫廠家的控溫設(shè)備用戶來說，在使用之前需要仔細了解其使用說明，避免不當使用造成半導體控溫裝置故障。（本文來源網(wǎng)絡(luò)，如有侵權(quán)請聯(lián)系無錫冠亞刪除，謝謝。）